正确使用FLIR红外热像仪测出样本的发射率

正确FLIR红外热像仪使用测出样本的发射率

第一步:确定反射的表观温度,请使用FLIR红外热像仪以以下两种方式确定反射表观温度:
方法1:直接方法
1根据公式“入射角= 反射角(a = b)”寻找可能的反射源。
2如果反射源是一个点光源,可以使用一张硬纸板阻断该光源来改变其性质。
3使用以下设置测量反射源的辐射强度(=表观温度):
发射率 1.0
Dobj: 0
您可使用以下两种方法之一测量辐射强度:

注意出于以下两个重要原因,不推荐使用热电偶来测量反射表像温度:
热电偶无法测量辐射强度。
热电偶需要与测量表面有良好的接触,通常需要使用隔热层粘合和覆盖传感元件。

方法2:反射体方法
请遵循以下步骤:
1弄皱一大张铝箔。
2展开铝箔并将其贴在一块同样大小的硬纸板上。
3将这块硬纸板放在要测量的对象前面。确保带有铝箔的一面对着FLIR红外热像仪。
4将辐射率设置为1.0。
5测量铝箔的表观温度并记录下来。
第二步:确定发射率
请遵循以下步骤:
1选择放置样本的位置。
2根据前面的过程,确定并设置反射表观温度。
3在样本上放置一片已知发射性很高的绝缘胶带。
4将样本的温度至少加热到高于室温20 K。加热必须相当均匀。
5聚焦并自动调整照相机,冻结照相机中的图像。
6调整电平和温宽以获得较好的图像亮度和对比度。
7设置绝缘胶带的发射值(通常是0.97)。
8使用以下测量功能之一测量胶带的温度:
等温线(用于确定温度和样本加热的均匀程度)
点(较简单)
方框平均(适用于表面发射值不同的各种表面)。
9. 记下温度。
10. 将测量功能移至样本表面。
11. 更改发射率设置,直至读出与前面测量温度相同的值。
12. 记下发射率。

本文来自仪器仪表

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