Keithley 4200A-SCS参数分析仪

使用 4200A-SCS参数分析仪 可以加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。最高性能参数分析仪,提供同步电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V测量。大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS参数分析仪 可将检定和测试设置的复杂程度降低高达50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。另外,嵌入式测量专业常识(业界首创)可提供测试指南并让您对结果充满信心。 4200A-CVIV多通道切换模块自动在I-V和C-V测量之间切换,无需重新布......

产品描述


使用4200A-SCS参数分析仪可以加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。最高性能参数分析仪,提供同步电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V测量。大胆发现从未如此容易。4200A-SCS参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。另外,嵌入式测量专业常识(业界首创)可提供测试指南并让您对结果充满信心。

4200A-CVIV多通道切换模块自动在I-V和C-V测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同,四通道4200A-SCS参数分析仪的显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。简单地说,4200A-SCS参数分析仪可以完全自定义且全面升级,您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本实行电气检定和评估。

4200A-SCS参数分析仪特点
内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
无需重新布线即可将C-V测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
NBTI/PBTI测试
随机电报噪声
非易失内存设备
稳压器应用测试
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试

本文来自银飞
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